ГОСТ 19656.9-79
Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты

УДК 621.382.2.029.6.08 : 006.354    Группа    Э29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ГОСТ

с 01.01.81 до 01.01.86

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11 сентября 1979 г. № 3457 срок действия установлен

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды (далее — диоды) и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты: т, /пред: метод четырехполюсника; метод последовательного резонанса диода; резонаторный метод.

Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере.

Общие условия должны соответствовать ГОСТ 19656.0-74.

1. МЕТОД ЧЕТЫРЕХПОЛЮСНИКА

1.1.    Принцип и условия измерений

1.1.1.    Постоянная времени или предельная частота диода должна определяться из измерения входного комплексного сопротивления измерительной камеры с включенным диодом с учетом коэффициентов пассивного линейного четырехполюсника, которые находят с помощью эквивалентов холостого хода (XX) и короткого замыкания (КЗ).

1.1.2.    ОВЧ-мощность Pq, частота измерений /₀, нпаряжение смещения t/_CM, при которых производят измерения, должны приводиться в стандартах и технических условиях на диоды конкретных типов.

Издание официальное    Перепечатка    воспрещена

★

Переиздание. Октябрь 1984 г.

ГОСТ 19656.9-79 Стр. 2

1.2. Аппаратура

1.2.1. Измерения следует производить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.

№ Г— i енератор СВЧ мощности;    Л—ферритовый вентиль, ЛЯ—переменный аттенюатор; ЯЛ— измерительная линия;    ИУ—измерительный уси литель; ИК—измерительная камера; ИС—источник напряжения смещения (варианты I. II подачи напряжения смещения определяются конструкцией измерительной камеры)

Черт. 1

1.2.2.    Эквивалентом XX является корпус диода, в котором полупроводниковая структура не подсоединена к выводу диода или отсутствует.

Эквивалентом КЗ является корпус диода, в котором осуществлено короткое замыкание в месте установки полупроводниковой структуры без изменения внутренней геометрии корпуса.

Эквиваленты XX и КЗ выполняются в соответствии со стандартами и техническими условиями на диоды конкретных типов.

1.2.3.    Измерительная линия должна иметь абсолютную погрешность отсчета положения зонда не более 0,001 Ао, где Ао — длина волны в линии передачи в мм, на которой производят измерение.

1.2.4.    Источник напряжения смещения должен удовлетворять следующим требованиям:

обеспечивать плавную установку и поддержание заданного напряжения смещения с погрешностью в пределах ±,2%;

коэффициент пульсации напряжения смещения при токе нагрузки до 10 мА не должен превышать 0,1%.

1.2.5.    Измерительный усилитель должен иметь чувствительность по напряжению не более 10 mikB.

1.2.6.    Измерительная камера в зависимости от диапазона частот должна обеспечивать коэффициент стоячей волны по напряжению (Ксти) с эквивалентами XX и КЗ:

53

Стр. 11 ГОСТ 19656.9-79

ПРИЛОЖЕНИЕ 1 Рекомендуемое

ИЗМЕРЕНИЕ Кст и МЕТОДОМ УДВОЕННОГО МИНИМУМА

1.    Для измерения больших Кст и может быть использован метод «удвоенного минимума», основанный на измерении поля вблизи минимума стоячей волны напряжения.

2.    Измерение производится на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.

Г—генератор СВЧ мощности;    АР— аттенюатор    развязывающий;    ИЛ— измерительная линия;    ИН—измеря емая нагрузка; ИП—индикаторный прибор

Черт. 1

3. Измерение производят следующим образом:

установить каретку измерительной линии (зонд) в минимум напряженности поля стоячей волны;

определить расстояние А/ между двумя положениями зонда по обе стороны минимума Umint в которых показания индикатора в два раза больше показания индикатора в минимуме U\ (черт. 2); вычислить Лет и по формуле

где АI —расстояние между двумя положениями зонда, мм;

%о —длина волны в линии передачи, на которой производят измерение, мм.

тсД/

При —-— <0,12 и квадратичности детектора линии формулу (1) можно за-

^ко

менять более простой формулой

А_Сти~

тсД I

(2)

При этом ошибка при вычислении не будет превышать 1%.

Относительную погрешность измерения Кст и методом удвоенного минимум можно определить по формуле

где

а—

ж»

ГПу—COS*

(*)

О)

69

ГОСТ 19656.9-79 Стр. 12

(5)

бт — относительная погрешность измерения отношения напряжений;

6А/ — относительная погрешность измерения расстояния между двумя поло' жениями зонда;

Черт. 2

бл₀ — относительная погрешность измерения длины волны в линии.

ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Справочное

РАСЧЕТ ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТОЯННОЙ ВРЕМЕНИ И ПРЕДЕЛЬНОЙ ЧАСТОТЫ

1.1. Погрешность измерения постоянной времени, определяемой по формулам (2) и (4) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

+(^/min)3+5/J+(T^K3)2 .

1. Метод четырехполюсника

где Л, т, я, р, у —определяют по формулам

А

О)

63

п~

^ctU’-^ctUxx *^^{П0С C0S}

2^min (^_ctU ^ctUxx^ ^S*ⁿ ( \ ^^min j

+

ХоДсОЭ² ^ ^ ^min| 2^min

+

^x°^cos2 ( x₀ ^/m,n) [( ^tg (t^/кз) ~^tg (fr^/min) ]

T=

КЗ

^X°^cos'³(a₀ '‘<³)[ ‘е(1₀ Ц-Цх" '»«„)]

б/min; б/_кз; 6/; 6/Сст и — относительные погрешности соответствующих величин, обозначенных в соответствии с пп. 1.3.2—1.3.4 настоящего стандарта.

Погрешность ARnac определяется по формуле

8/?псс= Y (^/-^cTU_K3)²+(^A«-^Mf_CtU_xx)^S+ (^М/К3)²    -

где L_t M_t N — определяются по формулам 2п    \

— -/ff

tg=

^lCTU

z.=

КЗ

/с

CTUxX

/ 2я

^tg2(—

■Ч+«!ги_кз

^KctUxx'^Kct''k3 ^Sm‘ ( )    ^

КЗ

К

^стиКЗ

iW=

•<«)]

^_CTU_xx'^A'«U_K3~^Sin2

(--•'K3)[«k.K3+«⁼(v ■''<=).

JV= *L.I

sin

(x ''^K3)' [*""K3^+Ig,(~ ^)1+²'^l8‘(~ ^,'^l<3)

(v •'“)[*

^ctUxx’^UkS ^sln3

^сти_кз+‘8⁵

CTU_K3

где 6Кст и_ХХ’ WctUk3—относительные погрешности измерения К стпхх

и /Сет и кз *

1.2. Погрешность измерения постоянной времени, определяемой по формуле (5) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

8т=

/

*сти

^ХХ -»к_сти) +(mS/<_crUxx)2+(n5R_noc)»+(^/_rai„)W ⁺

+ (fB/_K3)²+^²'

(2)

где Л; т; л; р; у—определяются по формулам, указанным в п. 1.1 настоящего приложения.

Погрешность измерения Aq определяется по формуле

bq= V 2(8С„ер)⁴    .

где бСдер — относительная погрешность емкостей C_nePi ^и £ пер₂ •

1.3. Пример расчета погрешности формул (1) и (2) настоящего приложения.

1.3.1.    Исходные данные для расчета Хо=32 мм; 6Хо*=0,Ъ%'; /_кз—4,3 мм; б/_кз-0,⁷4⁵%; /Сет v кз —80 (Л/кз =0,127 мм; Ш _кз = 25,2%);

?с»гхх^яЙ (Д/хх=0,127 мм; ЬА1_Хх =25,2%); 6m=l,5%; /_т1п = 3,2 мм; 6/_mJn — -1%. /Сети — 15 (Л/=0,68 мм; М/=4,7'%) /?_пос=0,0124 Ом; dq=7%.

1.3.2.

^сти_кз=⁶^сги_Хх⁼ ^ (21.5)2+25,2*4-0,52 =25,4%;

»Ксти= }/" (2,0-1,5)²+4,7*+0,5² =5,6%;

&Япос= |/~ (2,28-25,4)²+(1,28-25,4)^а+(0,008-0,745)² =66,5%.

1.3 3. Подставляя полученные значения в формулу (1), получим

-/(г*

6) +(0,08-25,4)2+(0Л5*66,5)-+(1,49-1)2+0,52+(4,8-0,75)2 -12,9%.

1.3.4 Подставляя полученные значения в формулу (2), получим

6т=

^г+(0,08-25,4)²+(0,15-66,5)²+(1,49-1)²+0,5²+(4,8-0,75)³ +

+ 72 -14,6%.

2. Метод последовательного резонанса диода

2.1. Погрешность измерения предельной частоты, определяемой по формуле (7) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

Ь/пред= Y ( V,- ~) +(»/.• -~) +[М- Yb)] '    ^(3>

где б/i; б/₂ — относительные погрешности измерения частоты частотомером, %; 6Л— относительная погрешность измерения уровня А, %.

65

2.2. Погрешность измерения предельной частоты, определяемой по формуле (8) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

8/пред= ]^/(^-5Cnep)^s+(*-5C_KOH)-+(5Z₀)-4-(c.87')2+(rf.67’_n)2+(e.5I_noc)2_l (₄₎ где а\ b; с\ d\ е — определяют по формулам

^е И    л

Скон    ^пос’^пер

_Л= _ .

l+T^X ^„ос-С_Пер

^кон

_д_ -2(1-4^/кд^пос-Спер)    .

1+-—-4^4^пос-С_пер

ОКОИ

К 7(/7^-i)    .    _rf==_    |/г_п    (K^-l)    _t

2{VT-\){VT_a-VT)'    2{VT*~\){V^-V~t)

8^л“/кд ’ ^-пос‘ ^пер

-

1+7—--⁴-²/кд^пос-С_Пер

Окон

6/пред*. бС_цер; бСко_Н; 6Z₀; 67; 67_n; 6L_noс — относительные погрешности соответствующих величин в процентах, обозначенных в п. 2.4.2.

Относительная погрешность измерения частоты мала по сравнению с остальными погрешностями и ею можно пренебречь.

2.3. Пример расчета погрешности 2.3.1. Исходные данные для расчета формулы (3): f\= 1920 МГц; /г —1960 МГц;

6fi = 6f2“ ±0,01%;

А=3,16 раза (5 дБ);

6Л = ±15%| (±0,6 дБ).

^лред

Подставляя приведенные данные в формулу (3), получим

1960 V- /    1920    \з Г    3,16

¹⁰~²'    40 ) ⁺(^Ш " 40 )+[¹⁵' 2(3,16-1)

= Ко,24+0,23+120+ V"120.47 = 1196.

2.3.2 Исходные данные для расчета по формуле (4):

Спер ⁼ 2 пФ; бСпер“5%;

Скон —0,4 пФ; бС_Кон = 6%;

Zo~20 Ом; dZo—5%;

Скос— 0,2 нГн; 6Lnoc=35%;

7-63; 7„-1000;

67-10%; 67_п= 10%'; /-2 ГГц.

Подставляя приведенные данные в формулу (4), получим

8/п_Ред= V (0,66-5)-+(0,297-5)-+5^г+(0,75-10)"+(-0,3-10)-+(0.022-35)*    =

=10,2%.

3. Резонаторный метод

ГОСТ 19656.9-79 Стр. 16

3.1. Погрешность измерения предельной частоты, определяемой по формуле (10) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

5/_пред =V (fl-M)»+(6.»C_MH)4-(e-*C_nep)4-[d-8(2А/_к)Р+[_й-5(2Л/_кд)]- , (5)

где a; b\ с\ d\ е — определяют по формулам:

1 А

а —

Л-1 ’

ь=

Ск

^пер+С_Кон( 1 “^47с2/кд * ^Lnoc * ^Слер)

(1-4^/2_д1_по_С.С_пер);

С — (1 4тс²/_кд ‘ ^пос ’ ^пер )

■* KQH

^пер“^^^кон^ ^47с2/кд ^пос’^пер)

2ДА

2Д/кд~2Д/к ’ 2Д/к_Д 2Д/кд—2Д/_К ¹

^/пред; 6Л; бСко_Н; бС_пер; б(2Д/к_д); б (2Af_K) — относительные погрешности соответствующих величин в процентах, обозначенных в п. 3.4.1.

Погрешности, вносимые в формулу (5) за счет погрешностей измерения

/о; /_Кд и Lnoc малы по сравнению с остальными погрешностями и ими можно пренебречь.

3.2. Пример расчета погрешности 3.2.1. Исходные данные для расчета формулы (5)

/кд⁼1960 MI ц; 2Д/кд^в 16 МГц; С*пер~0,8 пФ;

Л = 3,16 раза (5 дБ); 2А/_К = 4 МГц;

/о— 2400 МГц; С_ИОн = 0,2 пФ; 1_ПОС = 0,52 нГн; б/_кд=±10-²%; 6Л=±15% (±0,6 дБ); б(2^_к)=4,9%; б(2Д/_кд) = 1,2%; бС_Пе_Р-бС_Кон-5%.

Подставляя полученные данные в формулу (5), получим

V

3,16-15 2(3,16—1)

,    1.96^й \ „

^0,2    7,842") ^

0,8+0,2 1-;

1,96^ "7.84 »J

+

пред
	V 127,89 =11,3%.

67

Редактор В. С. Бабкина Технический редактор В. И. Тушева Корректор В. М. Смирнова

4,18 уч.-изд. л. Цена 20 кол.

Сдано в наб. 08.08.84 Подл, в печ. 30.01.85 4,25 уел. л. л. 4,375 уел. кр.-отт. Тир. 8000

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123840, Москва, ГСП, Новопресненский пер., 3 Тип. «Московский печатник». Москва, Лялин пер., 6. Зак„ 818

Цена 20 коп.

Единица 1 Величине Обозначение | Кзнмснс^ни и международное русское ОСНОВНЫЕ ЕДИН1 1ЦЫ си Длина метр хп М Масса килограмм fcg КГ Время секунда а с Сила электрического тока ампер А А Термодинамическая температура кельвин К К Количество вещества моль mol моль Сила света кандела cd кд ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ЕДИНИЦЫ СИ Плоский угол радиан 1 rad Рад Телесный угол стерадиан | 1 sr ср ПРОИЗВОДНЫЕ ЕДИНИЦЫ СИ, ИМЕЮЩИЕ СПЕЦИАЛЬНЫЕ НАИМЕНОВАНИЯ Единица Выражение через основные и дополните льны с Величин* Наименова Обозначение ние междуна родное русское единицы СИ Частота герц Н г Гц С~‘ Сила ньютон N Н М КГ * С"2 Давление паскаль Ра Па М"1 • кг • с*“* Энергия джоуль J Дж м2 - кг * с“* Мощность ватт W Вт М2 КГ * O'* Количество электричества кулон с Кд с А Электрическое напряжение вольт V В м2 • кг • с“3 • Ам Электрическая емкость фарад F Ф М"2- кг* • с4 - А* Электрическое сопротивление ом Й Ом м2 кг ■ с“3 • А'2 Электрическая проводимость сименс S См м“® • кг'1 • с3 • А2 Поток магнитной индукции яебер Wb Вб м2 • кг ■ с“8 • Аг1 Магнитная индукция тесла 1 Т Тл кг * с~2 * А"* Индуктивность генри н Гн м2*кгс A*"2 Световой поток люмен 1т лм к; ср Освещенность люкс 1х лк М“2 кд *ср Активность радионуклида беккерель Bq Бк с-1 Поглощенная доза грэй Gy Гр М2*с-2 ионизирующего излучения Эквивалентная до^а излучения зивер1? Sv Зв _1 м4-с~*

Стр. 3 ГОСТ 19656.9-79

диапазон частот измерения, ГГц

40—80 20—40 10—20 5—10 менее 5

^стГ, ^{не менее}

20

30

50

80

100

Ксти камеры с измеряемым диодом не менее 1,2 при заданном напряжении смещения.

Измерение К_Сти производят методом удвоенного минимума в соответствии с рекомендуемым/приложением 1.

1.3. Подготовка и проведение измерений

1.3.1.    Устанавливают заданный режим измерений по частоте /о и мощности Р₀.

1.3.2.    Находят «положение минимума стоячей волны с эквивалентом XX — /_Хх в мм и измеряют /С_Сти_Хх-

Находят положение плоскости отсчета /_п.₀ в мм по формуле

1п.о=1хХ±    .    (1)

4

1.3.3.    Находят положение минимума стоячей волны с эквивалентом КЗ, ближайшее к плоскости отсчета, и измеряют расстояние до плоскости отсчета /_кз в мм и Ксти_кз.

Определяют угол сдвига минимума стоячей волны по напряжению | (pi | относительно плоскости отсчета при напряжении tfcMl

I.

Ао

где /_min, мм.

Если/ф1| >45°, то /проводят дополнительные измерения при t/_CM2, 'При котором / ф2 | <45°.

1.4. Обработка результатов

1.4.1. Определяют постоянную времени диода т в секундах по одной из формул:

при |©i|<45°

j    1+ (#пос'К_сТи_хх 1) * COS² ^ ^ /min ^

^ctU    ^^CTUxx

2*/b-^cos3 (— -Лпт ) [    ’'кз )

где fo — частота измерений, Гц;

Япос —расчетная величина, определяемая по формуле

54

Стр. 5 ГОСТ 19656.9-79

1.5. Погрешность измерения постоянной времени и предельной частоты должна 'быть в пределах ±15% с доверительной вероятностью Я* = 0,997 и определяется по формулам (1) и (2) справочного приложения 2.

2. МЕТОД ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОГО РЕЗОНАНСА ДИОДА

2.1.    Принцип и условия измерений

2.1.1.    Постоянная времени или предельная частота на частоте последовательного резонанса диода должна определяться:

измерением частот fi и f₂ амплитудно-частотной характеристики измерительной камеры с диодом, на которых мощность в А раз больше, чем на резонансной частоте;

измерением ослабления Т измерительной ^камеры с диодом на резонансной частоте /_Кд и измерением ослабления Т_п измерительной камеры без диода на той же частоте.

2.1.2.    СВЧ-мощность Р₀, частота измерений /кд, напряжение смещения f/_CM, (при которых производят измерения, должны приводиться в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

2.2.    Аппаратура

2.2.1. Измерения следует производить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 2.

2.2.2.    Генератор ГКЧ и индикаторное устройство ИУ, входящие в состав автоматического измерителя /Семи, и ослабления, должны удовлетворять ГОСТ 16423-78.

2.2.3.    Погрешность измерения частоты частотомером Ч должна быть в пределах ±0,01% — гари измерении полосы частот f_ь /₂ и не более 0,5% —при измерении ослабления Т.

2.2.4.    Направленные ответвители HOI, Н02, НОЗ должны отвечать следующим требованиям:

56

ГОСТ 19656.9-79 Стр. 6

направленность не менее 25 дБ;

переходное ослабление должно быть в пределах 10—30 дБ;

/Сети входа и выхода не более 1,15.

2.2.5.    Аттенюатор АФ должен иметь ослабление в пределах 5—10 дБ и /Сети не более 1,2.

2.2.6.    Переменный аттенюатор АП должен иметь пределы изменения ослабления 0—40 дБ с погрешностью установки ослаблен ния (0,15±0,005Г), где Т — вводимое ослабление в дБ, 7(_сти аттенюатора не более 1,25.

2.2.7.    Источник напряжения смещения ИС должен удовлетворять требованиям л. 1.2.3.

2.2.8.    Согласованная нагрузка СН должна иметь /Сети не более 1,1 в полосе резонансных частот измеряемых диодов.

2.2.9.    Измерительная камера ИК при измерении полосы частот f\f₂ должна удовлетворять следующим требованиям:

высота волновода в плоскости включения измеряемого диода должна быть равна высоте корпуса диода. В случае коаксиальной линии расстояние между внутренним и внешним проводниками должно быть равно высоте корпуса диода;

/Сети камеры в полосе резонансных частот должен быть не более 1,2;

камера должна обеспечивать подачу на днод постоянного напряжения смещения;

значение измеряемого сигнала на частоте последовательного резонанса должно превышать уровень помех не менее чем на 3 дБ;

ослабление камеры с диодом на частоте последовательного резонанса должно быть не менее 6 дБ.

2.2.10.    Измерительная камера ИК при измерении ослабления Т должна удовлетворять следующим требованиям:

камера "в плоскости включения диода должна иметь волновое сопротивление Z₀, которое указывается в стандартах или технических условиях на измерительную установку;

камера должна иметь элементы настройки, позволяющие осуществить последовательный резонанс камеры с диодом и без диода на частоте /_кд, заданной в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов;

/Сети камеры на частоте /_кд — не более 1,06 при условиях, исключающих влияние элементов настройки.

Камера должна обеспечивать выполнение условия

Г_п>107\

2.3. Подготовка и проведение измерений

2.3.1. Устанавливают заданный режим измерений по мощное* ти Р₀ и частоте.

57

2.3.2.    Калибруют генератор качающейся частоты и индикаторное устройство по ослаблению в соответствии с нормативно-технической документацией.

2.3.3.    Устанавливают в измерительную камеру диод и -подают напряжение смещения U_CM. Настраивают генератор качающейся частоты на резонансную частоту.

2.3.4.    При измерении полосы частот расстраивают тенератор в режиме ручной перестройки частоты в сторону верхних частот и измеряют частоту f₂, на которой мощность на выходе измерительной камеры измеряется в А раз (по сравнению с мощностью в минимуме резонансной характеристики. Аналогично при расстройке в сторону нижних частот измеряют частоту Уровень А отсчитывают по индикаторному устройству или аттенюатору АП.

2.3.5.    При измерении ослабления настраивают измерительную камеру с диодом в резонанс на частоте /к_Д и измеряют ослабление Т в минимуме резонансной характеристики. Извлекают диод из камеры и настраивают измерительную камеру без диода в резонанс на частоте /_Кд и измеряют ослабление Т_п в минимуме резонансной характеристики.

2.4. Обработка результатов

2.4.1. Предельную частоту /пред в Гц при измерении по п. 2.3.4 определяют -по формуле

t    fr/У    А-\    _/7Ч

J пред ^"    - *    )    V';

/ 2—/1

где /_ь Ь —измеренные частоты, Гц;

А—уровень, показывающий, во сколько раз изменена мощность на выходе измерительной камеры -при расстройке генератора до частот f 1 и /₂ по сравнению с мощностью на частоте последовательного резонанса диода.

2.4.2. Предельную частоту при измерении по п. 2.3.5 определяют по формуле

где Z₀ — волновое сопротивление камеры в плоскости включения диода, Ом;

С_пех) — емкость перехода диода при заданном напряжении смещения, измеренная (по ГОСТ 18986.4-73, Ф;

Сион — конструктивная емкость диода указывается в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Ф;

58

ГОСТ 196S6.9—79 Стр. 8

L_noc — последовательная индуктивность диода указывается в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Гн;

Т, Т_в —■ ослабления, измеренные по л. 2.3.4, в разах;

/_кд — частота измерения, заданная в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Гц.

2.4.3. Постоянную времени т в секундах определяют по формуле

2.5. Погрешность измерения .постоянной времени и предельной частоты должна .быть в пределах ±15% с доверительной вероятностью Р* — 0,997 и определяется по формулам (3), (4) справочного приложения 2.

3. РЕЗОНАТОРНЫЙ МЕТОД

3.1.    Принцип и условия измерений

3.1.    Постоянную времени или предельную частоту диода следует определять измерением резонансной частоты камеры с диодом /_Кд, частот /1 и /₂ на которых мощность на выходе камеры изменяется в А раз по сравнению с мощностью на частоте резонанса.

3.1.2.    СВЧ-мощность Р₀, диапазон резонансных частот напряжение смещения /У_см, при которых производят измерения, должны приводиться в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

3.1.3.    Частота измерений /кд должна удовлетворять условиям

/кд . 0,9/₀; /_кд .,0,25/р; -->10/?,

/кд

где /кд — резонансная частота измерительной камеры с диодом, Гц;

/о — резонансная частота измерительной камеры без диода, Гц;

/_Р —■ частота последовательного резонанса, Гц; с — скорость света, мм/с; h — высота корпуса диода, мм.

3.2. Ann ар ату р а

3.2.1.    Измерения следует производить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 3.

3.2.2.    Элементы структурной схемы должны удовлетворять требованиям пп. 2.2.2—2.2.7.

3.2.3.    Детекторная секция ДС должна иметь /С_сти не более 2 в диапазоне рабочих частот.

59

Стр. 9 ГОСТ 19656.9-79

3.2.4. Измерительная камера ИК должна удовлетворять следующим требованиям:

обеспечивать подачу на диод постоянного напряжения смещения;

высота промежутка, в который помещают диод, должна быть равна высоте корпуса диода;

полоса пропускания камеры с диодом должна более чем в 3 раза превышать полосу пропускания камеру без диода, настроенной на ту же резонансную частоту с помощью подстроечных элементов;

значение измеряемого сигнала на резонансной частоте должно превышать уровень помех не менее чем на 3 дБ.

Черт. 3

3.3. Подготовка и проведение измерений

3.3.1.    Устанавливают заданный режим измерений .по мощности и частоте.

3.3.2.    Калибруют генератор качающейся частоты и индикаторное устройство по ослаблению. Конкретный порядок калибровки должен приводиться в стандартах или технических условиях на измерительную установку.

3.3.3.    Устанавливают в измерительную камеру диод и подают напряжение смещения £/_см.

Настраивают генератор качающейся частоты на резонансную частоту и измеряют частоту

Расстраивают генератор качающейся частоты в сторону верхних частот и измеряют частоту f₂, на которой мощность на выходе измерительной камеры изменяется в А раз по сравнению с мощностью на резонансной частоте камеры с диодом. Аналогично при расстройке генератора качающейся частоты в сторону ниж-

60